简要描述：Syft Explorer工业泄露实时检测与源头定位质谱分析系统可实现实时、选择性分析，适用于污染场源头追溯及短期化学品泄漏监测，帮助用户快速锁定关键污染物浓度信息。

Syft Explorer工业泄露实时检测与源头定位质谱分析系统是一款移动化解决方案，可实现实时、选择性分析，适用于污染场源头追溯及短期化学品泄漏监测，帮助用户快速锁定关键污染物浓度信息。该设备能够在源头直接检测挥发性排放物，包括空气分子污染物等。Syft Explorer内置数据采集与处理功能，可基于样品测量结果迅速做出决策。在目标点位即可完成高分辨率数据采集，无需色谱分离，也无需样品前处理。

• 高选择性，精准定量

• 操作简便，数据解读直观

• 单一配置，满足多种多样分析需求

• 痕量级多组分检测灵敏度

• 无需色谱分离或样品前处理

• 化合物库丰富，可创建自定义目标分析物方法

多场景适配，目标点位移动监测的完整方案

Syft Explorer 是一款多功能一体化解决方案，专为环境监测、室内空气及半导体应用而设计。它兼具高灵敏度、出色的性能稳定性与高度可重现的检测数据。凭借灵活的移动检测能力，可对现场潜在污染释放点的污染物进行高选择性且可靠的实时分析。

Syft Explorer 采用高度集成且适用移动分析的硬件与软件配置，既支持一个综合方法分析挥发性有机物及无机物，也可拆分多个方法进行灵活切换。设备支持连续在线分析，并配备专用的简易操作界面，便于仪器控制、状态查看与数据可视化。

可同时对化学性质多样的化合物进行选择性定量

图1：在生产车间内开展移动监测活动期间，采用 SIFT-MS 在生产车间内对环境中多种挥发性VOCs及无机化合物进行实时分析

Syft Explorer对污染源头的实时检测

图2：Syft Explorer 实时检测含氟化合物泄漏源头

仪器特性

Syft AMC Explorer：半导体洁净室气体分子污染物（AMC）监测解決方案

专为半导体客户设计，并配备警示灯塔及紧急关断（EMO）功能。

可按要求提供的额外安全特性包括抗震底座、废气过滤器、联锁装置及 VCR 接头。

Syft Explorer 软件：从任务排程到数据分析，全程支持您的工作流程

Syft Explorer工业泄露实时检测与源头定位质谱分析系统专为移动测量场景而设计，是一套功能完备的软件系统。内置的智能调度器让分析方法配置变得简单灵活；数据查看模块则可清晰呈现多组定量结果，一目了然。同时，可实时显示仪器健康状态，便于用户快速发现并排除异常。

      软件主界面

仪器健康概览可全面监控各项仪器参数，并具备异常报警状态的自动记录功能。仪器自检所使用的每日性能调谐程序的各个步骤与结果均自动记录存档。

      调度器

SyftExplore软件采用直观的用户界面，支持自由构建、导入和管理 SIFT-MS 分析方法。这些方法可灵活组合为自定义调度计划，并具备按需重复序列或单方法的循环运行能力。仪器性能调谐及其他日常任务均可实现自动启用。

      数据查看器

用户界面具备调度配置与数据处理功能，并支持将数据导出为 CSV 文件，方便在其他软件中进行进一步处理、统计或生成报告。